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OMNIS IC 離子層析儀

OMNIS IC 離子層析儀

離子層析領域的新標竿


特色

OMNIS IC 是一款高階全自動離子層析儀,能夠隨您的需求成長而靈活擴充。該儀器基於成熟可靠的 OMNIS 平台,融合了模組化硬體、智慧自動化技術與直觀且易用的軟體,從而提供卓越的性能與可靠性。

無論您的業務規模大小,OMNIS IC 都能靈活適應您的需求,支援按單元或模組擴充。它能與 OMNIS 平台上的滴定及近紅外 ( NIR ) 光譜分析功能無縫整合,為您提供高效、安全且符合標準要求的分析方案。

  • 卓越的靈活性 : 可根據需求配置客製化離子層析 ( IC ) 系統並進行升級
  • 極高的可靠性 : 具備自我監控功能 ( 包括使用者自訂的錯誤處理機制 ),確保卓越的操作安全性和分析過程穩定性
  • 節省時間 : 由於自動化技術、整合式線上樣品前處理選項以及全整合自動進樣器,實現高樣品處理量
  • 適用於各類 IC 使用者 : 自動化工作流程與直覺且易用的 OMNIS 軟體,確保操作簡單
  • 合規性讓您無憂 : 符合 FDA 21 CFR Part 11 法規及 EudraLex, Volume 4, Annex 11 指南要求
  • 獨特的性能 : 可將離子層析與滴定、自動化技術及近紅外 ( NIR ) 光譜分析結合

優勢

卓越的靈活性 – 模組化且可擴充的離子層析系統

OMNIS IC S, M, and L with lab technician

您可以選擇預先配置的 OMNIS IC S、M 或 L 系統 ( 適用於單通道或雙通道應用 ),也可以根據特定需求自訂專屬系統。由於採用模組化設計,您的 OMNIS IC 系統可隨時升級,以滿足未來的應用需求。

  • 提供預先配置或完全可自訂的系統
  • 支援隨時透過模組及功能單元 ( 如幫浦、各類進樣閥、偵測器和樣品添加單元 ) 進行升級
  • 實現複雜工作流程的無縫整合

易於使用 – 操作直觀,適合所有人

Lab technician configuring methods and workflows in the OMNIS Software

OMNIS IC 簡化了您的日常實驗室工作 :

  • 將樣品放置在樣品架上 – 系統自動完成從樣品前處理到結果評估及報告產生的整個過程
  • 現代化設計 – OMNIS IC 及 OMNIS IC 自動進樣器內建照明,且管柱、樣品及 Metrohm 連續式樣品前處理系統和智慧進樣技術 ( MISP ) 模組的托盤設計相當便於操作
  • 預建分析法 – 助您即刻進行分析工作
  • 使用者專屬軟體功能 – 支援透過自訂指令靈活設計分析方法,並可自訂報告格式
  • 直覺的操作介面 – 配備工具提示、圖示、選單及顯示文字提示幫助功能

 

快速 – 高通量與自動化工作流程

Lab technician adding a rack to the OMNIS IC

OMNIS IC 系統具備多種功能,可透過減少人工工作量來節省時間並提高生產效率,其中包括 :

  • 自動化工作流程,例如具備液位監測和消耗量追蹤功能的自動流洗液配製
  • 利用 Metrohm 連續式樣品前處理系統和智慧進樣技術提升效率:包括超濾、稀釋和透析等功能
  • 整合式高通量自動進樣器 ( OMNIS IC Autosampler 或 OMNIS IC Autosampler COOL ),最多可容納 160 個樣品瓶 ( 5 mL );配備機內照明、樣品瓶識別、條碼掃描、整合清洗站及洩漏偵測功能,並支援選購的液體處理功能升級
  • 自動重新校準及其他使用者自訂的自動化工作流程

絕對可靠 – 智慧監控與安全保障

Close-up of OMNIS IC

OMNIS IC 確保操作的一致性與安全性 :

  • 儀器上的 LED 指示燈顯示儀器及各功能單元的狀態
  • 即時監測液位、流速、壓力等參數
  • 針對樣品清單的運行前檢查
  • 確保背景電導度穩定的平衡狀態檢查
  • 用於液體控制與分析流程優化的多流路監測 ( MFM ) 功能
  • 具備自動排氣 ( AutoPurge ) 與自動沖洗 ( AutoRinse ) 功能,確保測量環境潔淨且無氣泡干擾
  • 支援使用者自訂錯誤處理機制

卓越性能 – 單一平台,多種技術

OMNIS platform with OMNIS titration, OMNIS IC, and OMNIS NIR spectroscopy

OMNIS 平台打破了資料孤島 :

  • 將離子層析、滴定和近紅外光譜技術整合於同一平台
  • 可在同一界面查看樣品的各項分析結果
  • 非常適合進行綜合分析,例如飲用水檢測 ( 涵蓋電導度、pH 值、硬度、陰離子及陽離子等指標 )

深入了解更多有關 OMNIS 平台的資訊


系統

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選配與升級

實現最大樣品處理量與效率的自動化

OMNIS IC 將高速、高度整合的自動進樣器與智慧自動化技術相結合,目的在最大化分析效率與樣品處理量。透過自動化工作流程、無縫的液體處理以及連續式樣品前處理系統和智慧進樣技術 ( MISP ) 功能,該系統將人工操作降至最低,從而即使在嚴苛的應用場景下,也能實現可靠的無人值守常規分析。

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