Analisi Raman della struttura cristallina del silicio
BWT-4902
it
La spettroscopia Raman a eccitazione di 532 nm viene utilizzata per studiare il contenuto cristallino e amorfo dei film di silicio a fase mista.
La spettroscopia Raman a eccitazione di 532 nm viene utilizzata per studiare il contenuto cristallino e amorfo dei film di silicio a fase mista.