Análisis Raman de la cristalinidad del silicio
BWT-4902
es
La espectroscopía Raman a 532 nm de excitación se utiliza para estudiar el contenido cristalino y amorfo de las películas de silicio en fase mixta.
La espectroscopía Raman a 532 nm de excitación se utiliza para estudiar el contenido cristalino y amorfo de las películas de silicio en fase mixta.