BWT-4902

Raman Analysis of Si Crytallinity

Summary

Raman spectroscopy at 532 nm excitation is used to study the crystalline and amorphous content of mixed phase silicon films.

Download BWT-4902 (EN)

Kontakt

Metrohm Polska

ul. Centralna 27
05-816 Opacz-Kolonia

Kontakt

Inne branże - dowiedz się więcej

Elektronika & półprzewodniki

Przemysł chemiczny

2 / 2

Poszukaj aplikacji

Zawęź swoje wyszukiwania(548)

Ta aplikacja została oznaczona w kategorii

// Przemysł chemiczny// Elektronika & półprzewodniki

Potentiometric analysis of rare earth elements (REEs)

// Przemysł chemiczny // Reference standards // Motoryzacja i lotnictwo

Analysis of rare earth metals based on ISO 23597

// Przemysł chemiczny // Reference standards // Metale, powłoki & obróbka powierzchni

brightRC – Advanced brightener analysis with a response curve

// Elektronika & półprzewodniki // Metale, powłoki & obróbka powierzchni // Brightener, suppressors-carriers, levelers

ECL detection of fentanyl

// Przemysł chemiczny // Edukacja & badania // Illicit substances – narcotics, explosives, lab residues

2 / 4