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AN-NIR-002

使用 XDS近红外光谱固体分析仪可对每个片剂进行非破坏性分析


概要

该应用说明展示了 NIRS 作为适用于固体剂型的一种快速(< 30 s)非破坏性测定工具的潜力。NIRS 既不需要进行样品准备,也不需要使用任何溶剂。因散射而导致的干扰,也可通过采用光谱二阶导数的方式来消除。

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