滴定/水分/イオンクロマトグラフィ/近赤外分析/ラマン分光/ポテンショスタット/ガルバノスタット/プロセス分析/pH/イオン/導電率/DO/酸化安定性試験/ボルタンメトリー/CVS
アプリケーション（技術資料）
イオンクロマトグラフィのお勧め技術情報！【コラム】ご隠居達のIC四方山話
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- AN-H-142有機金属化合物の測定
有機金属化合物は一般に、グリニャール試薬や強塩基 (例えばブチルリチウム化合物) など、有機化学にて用いられます。反応種の含有量を正確に知ることにより、反応に必要な量をより効率良く想定することができ、材料の無駄な浪費、または収量が低くなりすることを防ぎます。この Application Note では、2-ブタノールを滴定試薬として用いた TET （温度滴定）による有機金属の分析について説明しています。2-ブタノールと有機金属化合物間の反応における強い発熱性のため、これらの物質の迅速な定量分析が可能となります。
- AN-K-013有機過酸化物の水分測定
有機過酸化物の水分含量は、2成分試薬を用いたカールフィッシャー水分計によって測定されます。望ましくない副反応を防ぐため、測定は摂氏マイナス20度で行われます。
- AN-PAN-1051Inline process monitoring of the moisture content in propylene oxide
This Process Application Note presents a method to closely monitor low levels of moisture in propylene oxide safely and reliably by using a single explosion-proof inline process analyzer.
- AN-S-160Hexafluorophosphate in ionic liquid
Determination of hexafluorophosphate in an ionic liquid BMIHFP (1-butyl-3-methylimidazolium hexafluorophosphate, >97%) using anion chromatography with conductivity detection after chemical suppression.
- AN-S-394イオンクロマトグラフィによる炭酸水素ナトリウム中の陰イオンの測定
イオンクロマトグラフィによる、ナトリウム水素炭酸（別名：重炭酸ナトリウム）の陰イオン汚染物質の分析はとても重要です。これはサプレッションの間に生成されるCO2の量が多いためです。連続サプレッサを適用しても、炭酸塩ピークによる干渉が完全に除去されるわけではありません。インライン中和として、サンプル前処理モジュール（SPM）を使用し、その後にMCS（Metrohm CO2サプレッサ）でCO2を除去することにより、この問題は解決されます。この前処理の後、連続サプレッションを行うことでイオンクロマトグラフによる測定は問題なく行えます。
- EB-004Near-infrared and Raman spectroscopy for polymer analysis: An introduction
This e-book explains how Raman and near-infrared (NIR) spectroscopy enable rapid, nondestructive polymer analysis, ensuring high quality while reducing costs and waste.
- TA-021Determination of the halogen and sulfur content in complex organic matrices by means of Combustion Ion Chromatography (CIC)
The automated combination of pyrolysis and subsequent ion chromatography (Combustion IC) permits the parallel detection of halogens and sulfur in all flammable solid and liquid matrices. The method is captivating, not only because of its outstanding precision and trueness, but also because of the high sample throughput.
- WP-054QC ラボにおける効率性の向上: いかにNIRSが90％までの費用削減に役立つか
品質管理 (QC) プロセスの過小評価は、内部および外部の製造不良を引き起こす主な要因の1つであり、売上高の10～30%のロスにつながると報告されています。その結果、メーカーをそのQCプロセスによってサポートするために多くの様々な基準が制定されています。しかしながら、結果が出るまでの時間と関連する化学薬品のための費用は極めて過大となることがあり、そのため多くの企業がそのQCプロセスで近赤外分光法 (NIRS) を実行することになります。この文書では、NIRSの潜在能力が解説され、最高90％までの経費節約の可能性が示されています。
- WP-062イオンの測定における困難の克服: 標準添加と直接測定に関するヒント
イオン測定は、例えばイオンクロマトグラフィー (IC)、誘導結合プラズマ発光分光分析 (ICP-OES)、もしくは原子吸光分光法 (AAS) など、複数の異なる方法で実施することができます。これらはいずれも、分析研究所において幅広く用いられている、確立したメソッドです。しかしながら、比較的高い初期費用がかかります。 対照的に、イオン選択性電極 (ISE) を用いたイオン測定は、これらの高額な技術に対する有望な代替法です。このホワイトペーパーでは、標準添加または直接測定を適用した際に直面し得る難題と、分析者がこのようなタイプの分析でより高い信頼性を得るためにいかにその問題を克服するかについて説明されています。
