イオンクロマトグラフィによる、ナトリウム水素炭酸（別名：重炭酸ナトリウム）の陰イオン汚染物質の分析はとても重要です。これはサプレッションの間に生成されるCO2の量が多いためです。連続サプレッサを適用しても、炭酸塩ピークによる干渉が完全に除去されるわけではありません。インライン中和として、サンプル前処理モジュール（SPM）を使用し、その後にMCS（Metrohm CO2サプレッサ）でCO2を除去することにより、この問題は解決されます。この前処理の後、連続サプレッションを行うことでイオンクロマトグラフによる測定は問題なく行えます。
