功能概述

半导体的生产需要极高的质量标准，因为污染可能会造成晶圆损坏。将原材料（单晶硅）加工为成品集成电路须需及多个步骤。每个步骤都需要格外注重细节，以确保获得高质量的成品。本产品手册中概述了各个感兴趣的参数，其可以通过在实验室或集成在生产流程中，通过滴定法、离子色谱法、伏安测量法和 CVS 或 NIR 及拉曼光谱法进行分析。本概述根据不同生产步骤编制。