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Die Produktion von Halbleitern erfordert hohe Qualitätsstandards, da Verunreinigungen zu defekten Wafern führen können. Die Verarbeitung des Rohmaterials (monokristallines Silizium) zu einem fertigen integrierten Schaltkreis umfasst mehrere Schritte. Jeder Schritt erfordert ein hohes Mass an Detailgenauigkeit, um eine hohe Qualität des Endprodukts zu gewährleisten. Dieser Prospekt bietet einen Überblick über die verschiedenen Analyseparameter, die mit Methoden wie Titration, Ionenchromatographie, Voltammetrie und CVS oder NIR- und Raman-Spektroskopie im Labor oder während des Produktionsprozesses analysiert werden können. Der Überblick ist nach den verschiedenen Produktionsschritten gegliedert.