Applikationen
- 410000059-BCharakterisierung von Kohlenstoffmaterialien mit Raman-Spektroskopie
Die Raman-Spektroskopie ist aufgrund ihrer Selektivität, Geschwindigkeit und Fähigkeit zur zerstörungsfreien Messung von Proben ein wertvolles Werkzeug zur Charakterisierung von Kohlenstoffnanomaterialien. Kohlenstoffmaterialien weisen typischerweise einfache Raman-Spektren auf, enthalten jedoch eine Fülle von Informationen über interne mikrokristalline Strukturen in Bezug auf Peakposition, Form und relative Intensität.
- 8.000.6059Bestimmung von gefährlichen Substanzen in elektrischen und elektronischen Geräten
Die Richtlinie 2002/95/EG zur Beschränkung der Verwendung bestimmter gefährlicher Stoffe in Elektro- und Elektronikgeräten (RoHS) legt nicht nur maximale Grenzwerte für die gefährlichen Metalle Cadmium, Blei und Quecksilber fest, sondern auch für sechswertiges Chrom und die bromierten Flammschutzmittel in elektrischen und elektronischen Produkten. Für ihre Einhaltung sind zuverlässige Analysemethoden erforderlich. Dieses Poster befasst sich mit der nasschemischen Bestimmung von Spurenkonzentrationen der sechs durch RoHS eingeschränkten Substanzen in einer Vielzahl von Materialien, darunter Metalle, elektrotechnische Bauteile, Kunststoffe und Kabel. Nach der IEC 62321 entsprechenden Vorbereitung werden die Metalle Blei, Cadmium und Quecksilber am besten durch die anodische Stripping-Voltammetrie (ASV) bestimmt. Demgegenüber werden die Flammschutzmittel PBB und PBDE durch direkt injizierte Ionenchromatographie (IC) mittels spektrophotometrischer Detektion analysiert. Chrom(VI) kann entweder mit der adsorptiven Stripping-Voltammetrie (AdSV) oder der IC bestimmt werden. Beide Methoden sind sehr empfindlich und entsprechen den vorgeschriebenen RoHS-Grenzwerten.
- 8.000.6073Die Bestimmung von Anionen in konzentrierter Salpetersäure mittels Ionenchromatographie: Einfluss der Temperatur auf die Selektivität
Bestimmung von Chlorid und Sulfat neben hohen Nitratkonzentrationen. Optimierung der chromatographischen Trennung durch Variation der Temperatur und der Eluentzusammensetzung.
- AB-046Potentiometrische Cyanidbestimmung
Der Bestimmung von Cyanid kommt in galvanischen Bädern, bei der Entgiftung von (Galvanik-)Abwässern, aber, infolge seiner hohen Toxizität, auch in Wässern allgemein grosse Bedeutung zu. Bereits Konzentrationen von 0.05 mg/L CN- können auf Fische tödlich wirken.Nachfolgend werden Cyanidbestimmungen in Proben unterschiedlichster Konzentration mittels potentiometrischer Titration beschrieben.Chemische Reaktionen:2 CN- + Ag+ → [Ag(CN)2]-[Ag(CN)2]- + Ag+ → 2 AgCN
- AB-077Volumetrische Wassergehaltsbestimmung nach Karl Fischer – Tipps und Tricks für die volumetrische Karl-Fischer-Titration
Dieses Application Bulletin gibt einen Überblick über die volumetrische Wassergehaltsbestimmung nach Karl Fischer. Unter anderem wird die Handhabung von Elektroden, Proben und Wasserstandards beschrieben. Die beschriebenen Verfahren und Parameter entsprechen der Norm ASTM E203.
- AB-082Bestimmung von Fluorid mit einer ionenselektiven Elektrode
Dieses Bulletin beschreibt die Fluoridbestimmung in diversen Matrices mit Hilfe der ionenselektiven Fluoridelektrode (F-ISE). Die F-ISE besteht aus einem Lanthanfluoridkristall und zeigt Nernstsches Verhalten über einen grossen Fluoridkonzentrationsbereich.Der erste Teil dieses Bulletins enthält Hinweise zur Handhabung und Pflege der Elektrode sowie der eigentlichen Fluoridbestimmung. Der zweite Teil demonstriert die Direktbestimmung von Fluorid mit der Standardadditionstechnik in Kochsalz, Zahnpasta und Mundwasser.
- AB-102Konduktometrie
Dieses Bulletin besteht aus zwei Teilen. Der erste Teil bietet einen Überblick zur Theorie, während weitere Details in der Metrohm Monographie "Conductometry" beschrieben sind. Im zweiten, praktischen Teil werden die folgenden Themen behandelt:Leitfähigkeitsmessungen allgemein; Bestimmung der Zellkonstanten; Bestimmung des Temperaturkoeffizienten; Leitfähigkeitsmessungen in Wasserproben; TDS – Total Dissolved Solids; Konduktometrische Titrationen;
- AB-137Coulometrische Wassergehaltsbestimmung nach Karl Fischer
Dieses Application Bulletin gibt einen Überblick über die coulometrische Wassergehaltsbestimmung nach Karl Fischer.Unter anderem wird die Handhabung von Elektroden, Proben und Wasserstandards beschrieben. Die beschriebenen Verfahren und Parameter entsprechen der Norm ASTM E1064.
- AB-147Simultane Spurenbestimmung von sieben Metallen in «Electronic grade»-Materialien mit Hilfe der Inversvoltammetrie
Die Metalle Cd, Co, Cu, Fe, Ni, Pb und Zn werden im Sub-ppb-Bereich (Bestimmungsgrenze 0.05 µg/L) mittels inverser Voltammetrie bestimmt. Bei Cd, Cu, Pb und Zn kommt die DP-ASV-Methode, bei Co, Ni und Fe die DP-CSV-Methode (Dimethylglyoxim- resp. Brenzkatechinkomplexe) zur Anwendung.Mit dem VA-Processor und dem Probenwechsler ist es möglich, die genannten Metallionen in einer Lösung automatisch zu bestimmen. Die Methode wurde speziell für die Spurenanalyse bei der Herstellung von Halbleiterchips auf Siliziumbasis ausgearbeitet. Selbstverständlich kann sie auch in der Umweltanalytik erfolgreich eingesetzt werden.
- AB-178Vollautomatische Wasseranalyse
Für die Beurteilung der Wasserqualität ist die Bestimmung der folgenden physikalischen und chemischen Parameter notwendig: elektrische Leitfähigkeit, pH-Wert, p- und m-Wert (Alkalinität), Chloridgehalt, Calcium- und Magnesiumhärte, Gesamthärte sowie Fluoridgehalt. Dieses Bulletin beschreibt, wie die oben genannten Parameter in nur einem einzigen Arbeitsgang bestimmt werden.Der Permanganatindex (PMI) und der chemische Sauerstoffbedarf (CSB) sind weitere wichtige Parameter für die Wasseranalyse. Dieses Bulletin beschreibt daher zusätzlich die vollautomatische Bestimmung des PMI nach EN ISO 8467 und des CSB nach DIN 38409-44.
- AB-188pH-Messtechnik
Anhand von Überlegungen und praktischen Beispielen soll dieses Bulletin mithelfen, dem Anwender optimale pH-Messungen zu ermöglichen. Theoretische Grundlagen finden sich in vielen Büchern und Publikationen, daher wird im Bulletin der Praxis ein grosser Platz eingeräumt.
- AB-195Titrimetrische Bestimmung der freien Borsäure und Tetrafluoroborsäure in Nickelbädern
Das Bulletin beschreibt die simultane potentiometrische Titration der freien Borsäure und der freien Tetrafluoroborsäure in Nickelbädern. Nach Zusatz von Mannit werden die gebildeten Mannitkomplexe mit Natronlauge titriert. Die Bestimmung erfolgt dabei direkt in der Badprobe; Nickel- und andere Metallionen stören nicht.
- AB-231Bestimmung von Zink, Cadmium, Blei, Kupfer, Thallium, Nickel und Cobalt in Wasserproben mittels anodischer und adsorptiver Stripping-Voltammetrie nach DIN 38406-16
Die Standardmethode nach DIN 38406-16 beschreibt die Bestimmung von Zn, Cd, Pb, Cu, Tl, Ni und Co in Trink-, Grund- und Oberflächenwasser sowie in Niederschlagswasser (z. B. Regen). Da die in den Wasserproben vorhandenen organischen Stoffe die voltammetrische Bestimmung stark beeinträchtigen können, ist eine Vorbehandlung mit UV-Aufschluss unter Einsatz von Wasserstoffperoxid erforderlich. Mit diesem Aufschluss wird die Beseitigung aller organischer Stoffe sichergestellt, ohne Blindwerte einzuführen. Diese Methode kann natürlich auch für die Spurenanalytik von anderen Materialien eingesetzt werden, beispielsweise für die Spurenanalytik bei der Herstellung von Halbleiterchips auf Siliziumbasis. Zn, Cd, Pb, Cu und Tl werden an der HDME mittels anodischer Stripping-Voltammetrie (ASV), Ni und Co mittels adsorptiver Stripping-Voltammetrie (AdSV) bestimmt.
- AB-344Automatisierte Analyse von Ätzsäuremischungen für Siliziumsubstrate mit thermometrischer Titration
Dieses Bulletin befasst sich mit der automatisierten Bestimmung von Gemischen aus HNO3, HF und H2SiF6 im Bereich von ca. 200-600 g/L HNO3, 50-160 g/L HF und 0-185 g/L H2SiF6 mittels thermometrischer Titration.Ätzsäuregemische, die HNO3, HF und H2SiF6 aus dem Ätzen von Siliziumsubstraten enthalten, können mit dem 859 Titrotherm in einer Folge von zwei Bestimmungen analysiert werden. Die erste Bestimmung beinhaltet eine direkte Titration mit Standard c(NaOH) = 2 mol/L, gefolgt von einer Rücktitration mit c(HCl) = 2 mol/L. Diese Bestimmung ergibt den H2SiF6-Gehalt sowie einen Wert für den kombinierten (HNO3+HF) Gehalt. Die zweite Bestimmung besteht aus einer Titration mit c(Al3+) = 0,5 mol/L zur Bestimmung des HF-Gehalts. Bei frisch hergestellten Gemischen aus HNO3 und HF, die kein H2SiF6 enthalten, wird eine verknüpfte Zwei-Titration-Sequenz verwendet. Die Ergebnisse der beiden Bestimmungen werden von tiamoTM verwendet, um individuelle Ergebnisse für HNO3, HF und H2SiF6 zu erhalten.
- AN-C-149Bestimmung von Ionen auf Oberflächen von Leiterplatten
Sauberkeit ist in der Elektronikfertigung unerlässlich. Insbesondere ionische Verunreinigungen führen zu einer drastischen Verschlechterung der Qualität der Leiterplatten. Das vorliegende Application Note beschreibt die Bestimmung von Kationen auf Leiterplattenoberflächen. Die dafür verwendete Methode der intelligenten Partial-Loop-Injektionstechnik (MiPT) erlaubt die Bestimmung von Kationen und Anionen in derselben Probe. Die Bestimmung der Anionen ist in AN-S-317 beschrieben.
- AN-C-159Kationenspuren auf der Säule Metrosep C 4 - 250/2.0 nach Inline-Anreichung mit Matrixeliminierung
Die intelligente Inline-Anreicherung mit Inline-Matrixeliminierung (MiPCT-ME) wird zur Spurenbestimmung der sechs Standardkationen sowie Zink und Diethylamin verwendet. Auf der Microbore-Säule Metrosep C 4 - 250/2.0 ist die Analyse in 24 Minuten beendet. Die Wiederfindungsraten liegen bei über 95%. Die mit der Software MagIC Net berechneten Nachweisgrenzen liegen für ein Anreicherungsvolumen von 4 mL im unteren ng/L-Bereich.
- AN-C-162Kationische Komponenten in Entwicklerlösung mithilfe eines Flussgradienten
Diese Application Note beschreibt die Bestimmung von N,N-Diethylhydroxylamin (DEHA), Triisopropanolamin (TIPA) und einer kationischen Farbentwicklerkomponente (Color-Developing component, CDC) in einer Entwicklerlösung. Die Analytik erfolgt auf einer hochkapazitiven Säule des Typs Metrosep C - 250/4.0 mit anschliessender direkter Leitfähigkeitsdetektion. Um die Verweilzeit der stark auf der Säule retardierten Farbentwicklerkomponente zu reduzieren, wurde die Säulenflussrate nach der Elution der Amine erhöht.
- AN-CIC-011Analyse eines Ionenaustauschers mittels Metrohm Combustion IC
Die Herstellung von Reinstwasser für die pharmazeutische Industrie oder Halbleiterindustrie erfordert hochwertige Ionenaustauscher. Dabei ist die Metrohm Combustion Ion Chromatography ein unverzichtbares Werkzeug für die Püfung der Reinheit von Anionenaustauschermaterial. Die Ausgangsprobe war nass und musste bei 105 °C in einem speziellen Ofen mit Abluftentsorgung getrocknet werden.Stichwort: Pyrohydrolyse
- AN-CIC-015Test von Ausgangsmaterial für Leiterplatten auf Halogenfreiheit mittels Metrohm Combustion IC
Die EU-Richtlinie zur Beschränkung der Verwendung bestimmter Gefahrstoffe in Elektro- und Elektronikgeräten sowie die IEC 61249-2-21 definieren Grenzwerte für den Halogengehalt in Materialien, die in der Elektronik Anwendung finden. Die Metrohm Combustion IC mit ionenchromatographischer Bestimmung erlaubt eine präzise, schnelle und automatisierte Halogenbestimmung gemäss IEC 61189-2 in Rohmaterialien, die in Leiterplatten eingesetzt werden.Stichwort: Pyrohydrolyse
- AN-CS-012Bestimmung von Trimethylamin und Standardkationen in 30%igem Wasserstoffperoxid (H2O2)
Wasserstoffperoxid ist abhängig von seinem Verwendungszweck in verschiedenen Reinheitsgraden verfügbar. Hochreines H2O2 (elektrochemisch rein) erfordert einen sehr niedrigen Verunreinigungsgrad, d. h. weniger als 1 μg/L an Trimethylamin (TMA). Diese Application Note beschreibt die Bestimmung von Trimethylamin in einer hochreinen H2O2-Lösung (30%). Die Analyse erfolgt durch Inline-Anreicherung mit Matrixeliminierung (MiPCT-ME) unter Einsatz der Leitfähigkeitsdetektion nach sequenzieller Kationensuppression.
- AN-CS-013Kationen in deionisiertem Wasser und Berechnung von Nachweis- und Bestimmungsgrenze der MiPCT
Die Analyse von Kationenspuren in hochreinem Wasser (im Bereich sub-μg/L) erfordert eine Kationenchromatographie nach sequenzieller Suppression und Metrohm intelligent Preconcentration Technique (MiPCT). Es werden die Kationenspuren in deionisiertem Wasser (DI) bestimmt und die Bestimmungsgrenze (MDL nach US EPA) sowie die Nachweisgrenze (LOD = 3 x S/N) berechnet. MDL und LOD sind sich bei dieser Konfiguration mit einer Anreicherungsmenge von 6 mL im untersten ng/L-Bereich sehr ähnlich.
- AN-CS-018Metrosep C Supp 2 - 250/4.0: Bestimmung von Kationen in Abwasser mithilfe eines Dose-in Gradienten
Die Kationenanalyse von Abwasser mittels IC ist eine bewährte Methode. Einschränkender Faktor ist häufig die Trennung von Na/NH4. Hohe Natriumkonzentrationen können dazu führen, dass eine Ammoniumbestimmung aufgrund der Peak-Überschneidung unmöglich wird. Der Einsatz der sequenziellen Suppression und eines Dose-in Gradienten führt zu einer besseren Trennung von Na/NH4 und ermöglicht die Bestimmung niedriger Ammoniumkonzentrationen.
- AN-CS-019Bestimmung von Ammonium- und Trimethylaminspuren in 30%iger Wasserstoffperoxidlösung mittels sequenzieller Suppression
Die Bestimmung von Kationen und Aminen in Wasserstoffperoxid im Spurenbereich ist wichtig, um die Qualität von hochwertigen Halbleiterchemikalien zu bestimmen. Einige Hersteller sind insbesondere auf den Nachweis von höchstens 1 ppb Trimethylamin in Wasserstoffperoxidproben angewiesen. Zur Anwendung kommt die Ionenchromatographie nach MiPCT-ME* mit Leitfähigkeitsdetektion nach sequenzieller Kationensuppression.
- AN-EC-002Referenzelektroden und ihre Verwendung
Eine Referenzelektrode verfügt über ein stabiles und genau definiertes elektrochemisches Potential (bei konstanter Temperatur), das sich auf die angelegte oder gemessene Spannung in einer elektrochemischen Zelle bezieht. Eine gute Referenzelektrode ist daher stabil und nicht polarisierbar. Mit anderen Worten: Die Spannung einer solchen Elektrode bleibt in der genutzten Umgebung und auch beim Durchgang eines kleinen Stroms stabil. In dieser Application Note sind die gebräuchlichsten Referenzelektroden zusammen mit ihren Anwendungsbereichen aufgeführt.
- AN-EC-011Untersuchung von Zwischenprodukten bei der Elektroabscheidung von Kupfer mithilfe der rotierenden Ringscheibenelektrode (RRDE) Autolab
Kupfer ist wohl eines der technologisch relevantesten Metalle, insbesondere für die Halbleiterindustrie. Das in dieser Branche verwendete Abscheidungsverfahren ist als Dual-Damascene-Prozess bekannt und umfasst die elektrolytische Abscheidung von Kupfer aus einer sauren Kupferverbindung in Anwesenheit von Additiven.Diese Application Note veranschaulicht den Einsatz der rotierenden Ringscheibenelektrode (RRDE) Autolab zur Untersuchung der elektrolytischen Abscheidung von Kupfer und Bestimmung des Cu+-Zwischenprodukts.
- AN-EC-013Die Wichtigkeit von Vierleitermessungen für die elektrochemische Impedanzspektroskopie von niederohmigen Systemen
In dieser Application Note wird mittels elektrochemischer Impedanzspektroskopie (EIS) eine auf zwei verschiedene Weisen angeschlossene handelsübliche Batterie getestet. Für die erste EIS-Messung wird die Batterie an eine Zweileiter-Messanordnung angeschlossen. Für die zweite EIS-Messung wird die Batterie an eine Vierleiter-Messanordnung (Kelvin-Messung) angeschlossen. Die unterschiedliche Anschlussweise der Leiter ergibt unterschiedliche Messwerte für die Batterieimpedanz.
- AN-EC-015Metrohm 663 VA Stand zur Bestimmung von Schwermetallionen in Wasserproben
Die Bestimmung von Schwermetallionen in einer Lösung ist eine der erfolgreichsten Anwendungen der Elektrochemie. In dieser Application Note wird die anodische Stripping-Voltammetrie eingesetzt, um die Anwesenheit von zwei Analyten in einer Leitungswasserprobe zu messen.
- AN-EC-017Cyclovoltammetrie und elektrochemische Impedanzspektroskopie mit dem Microcell HC-System, den Messzellen TSC SW Closed und TSC Battery
Die Messzellen TSC SW Closed und TSC Battery sind Kompaktsysteme, die für Messungen von luft- oder feuchtigkeitsempfindlichen Materialien entwickelt wurden, wie sie z. B. in Batterien zum Einsatz kommen. In diesem Dokument werden zwei Prüfverfahren erläutert. Für das erste Verfahren wird die potentiostatische Cyclovoltammetrie (CV) verwendet, während das zweite Verfahren auf die elektrochemische Impedanzspektroskopie (EIS) zurückgreift.
- AN-EC-026Vergleich zwischen linearer Cyclovoltammetrie und Staircase-Cyclovoltammetrie an einem kommerziellen Kondensator
Kondensatoren sind für den Erfolg der Elektronikindustrie unerlässliche elektronische Bauteile. Inzwischen sind sie auch grundlegende Komponenten von Elektro- und Hybridfahrzeugen. Die Leistung von Kondensatoren wird mithilfe elektrochemischer Tests überprüft, z. B. mittels potentiostatischer Cyclovoltammetrie. VIONIC powered by INTELLO kann sowohl Treppen- als auch lineare zyklische Voltammetrien (CV) durchführen. Diese Application Note vergleicht die potentiostatische lineare und Treppenstufen-Cyclovoltammetrie und zeigt auf, warum sich die Leistung von Kondensatoren am besten mittels linearer CV untersuchen lässt.
- AN-EC-028Messung der Wasserstoffpermeation gemäß ASTM G148
In dieser Application Note werden Wasserstoffpermeationsexperimente nach dem in der ASTM-Norm G148 beschriebenen Verfahren durchgeführt.
- AN-EC-032Wasserstoffpermeation mit einem einzigen Messgerät gemäß ASTM G148
Die Devanathan-Stachurski-Zelle (oder «H-Zelle») wird erfolgreich eingesetzt, um die Permeation von Wasserstoff durch Folien oder Membranen zu bewerten. Da kleine Mengen Wasserstoff durch die Folie oder Membran dringen, ist ein sehr empfindlicher Potentiostat für seinen Nachweis erforderlich. In dieser Application Note wird eine Untersuchung der Wasserstoffpermeationseigenschaften verschiedener Eisenbleche unter Berücksichtigung der instrumentellen Anforderungen diskutiert.
- AN-EIS-001Elektrochemische Impedanzspektroskopie (EIS) Teil 1 – Grundbegriffe
Die elektrochemische Impedanzspektroskopie (EIS) ist eine effektive Methode zur Charakterisierung elektrochemischer Systeme. In den letzten Jahren hat die EIS breite Anwendung auf dem Gebiet der Materialcharakterisierung gefunden. Sie kommt routinemäßig bei der Charakterisierung von Beschichtungen, Batterien, Brennstoffzellen und Korrosionserscheinungen zum Einsatz. In dieser Application Note werden die Grundsätze einer EIS-Messung dargelegt.
- AN-EIS-002Elektrochemische Impedanzspektroskopie (EIS) Teil 2 - Versuchsaufbau
In dieser Application Note wird der Aufbau für die Durchführung einer EIS erläutert, einschliesslich der verschiedenen Anschlussarten in der elektrochemischen Zelle und der Geräteeinstellungen.
- AN-EIS-003Elektrochemische Impedanzspektroskopie (EIS) Teil 3 – Datenanalyse
Hier werden die gebräuchlichsten Schaltungselemente für EIS vorgestellt, die in unterschiedlichen Konfigurationen zusammengesetzt werden können, um äquivalente Schaltkreise für die Datenanalyse zu erhalten.
- AN-EIS-004Elektrochemische Impedanzspektroskopie (EIS) Teil 4 – Ersatzschaltbilder
Erfahren Sie in dieser Application Note, wie Sie einfache und komplexe Ersatzschaltbilder zum Anpassen von EIS-Daten konstruieren. Für jedes Beispiel werden Nyquist-Diagramme angezeigt.
- AN-EIS-005Elektrochemische Impedanzspektroskopie (EIS) Teil 5 – Parameterbewertung
Die Application Note AN-EIS-004 über Ersatzschaltbildmodelle bot einen Überblick über die verschiedenen Schaltelemente, die für die Erstellung eines Ersatzschaltbildmodells verwendet werden. Nach der Entscheidung für ein geeignetes Modell für das zu untersuchende System besteht der nächste Schritt bei der Datenanalyse in der Bewertung der Modellparameter. Das geschieht mittels der nicht linearen Regression des Modells zu den Daten. Die meisten Impedanzsysteme verfügen über ein Programm zur Datenanpassung. In dieser Application Note wird der Einsatz von NOVA zur Anpassung der Daten veranschaulicht.
- AN-EIS-006Elektrochemische Impedanzspektroskopie (EIS) Teil 6 – Messung von Rohsignalen in der EIS
In dieser Application Note wird der Vorteil einer Aufzeichnung von Zeitbereichsrohdaten für jede einzelne Frequenz während einer elektrochemischen Impedanzmessung beschrieben.
- AN-EIS-007Anpassung von EIS-Daten ‒ Gewinnung guter Ausgangwerte von Ersatzschaltbildern
Die elektrochemische Impedanzspektroskopie (EIS) ist ein leistungsstarkes Verfahren, das Informationen zu den Prozessen liefert, die an der Grenzfläche zwischen Elektrode und Elektrolyt stattfinden. Die mittels EIS erhobenen Daten werden mit einem geeigneten elektrischen Ersatzschaltbild abgebildet. Beim Anpassungsvorgang werden die Werte der Parameter geändert, bis die mathematische Funktion innerhalb einer bestimmten Fehlerspanne zu den Versuchsdaten passt. Diese Application Note enthält einige Empfehlungen zur Gewinnung akzeptabler Ausgangsparameter und zur Durchführung einer genauen Anpassung.
- AN-EIS-009Mott-Schottky-Analyse
Diese Anwendungsnotiz stellt die Mott-Schottky-Messung, eine Erweiterung der elektrochemischen Impedanzspektroskopie (EIS), an einem gängigen Halbleitermaterial vor.
- AN-H-004Bestimmung von Fluorid durch Borsäuretitration
Bestimmung von Fluorid in Betriebslösungen wie Ätzflüssigkeitsmischungen.
- AN-H-016Bestimmung von Essigsäure-, Phosphorsäure- und Salpetersäuremischungen
Bestimmung von Phosphorsäure-, Salpetersäure- und Essigsäuremischungen, welche zum Ätzen von Aluminium in der Fertigung von Halbleiterbauelementen benutzt werden.
- AN-H-017Bestimmung von Bromid und Chlorid in fotografischen Entwicklerlösungen
Bestimmung von Bromid und Chlorid in fotografischen Entwicklerlösungen.
- AN-H-087Bestimmung von Fluorwasserstoffsäure durch Aluminiumtitration
Bestimmung von Fluorwasserstoffsäure in gemischten Säureätzlösungen.
- AN-H-089Automatisierte Analyse von Hexafluorokieselsäure
Automatisierte Bestimmung des Gehalts von H2SiF6 und HF in Hexafluorokieselsäure in Industriequalität.
- AN-H-098Bestimmung von Fluorwasserstoffsäure in Siliziumätzlösungen
Bestimmung von Fluorid in industriellen Lösungen, wie z. B. Säureätzgemische.
- AN-H-100Bestimmung der Gesamtsäuren in stark sauren Ätzlösungen
Bestimmung der Gesamtsäurekonzentration in Mischungen von Fluorwasserstoffsäure zum Ätzen von Silikonsubstraten.
- AN-H-114Bestimmung von Schwefel-, Salpeter- und Fluorwasserstoffsäure in Ätzlösungen
Zwei separate Titrationssequenzen sind notwendig, um das Gemisch zu analysieren:Titration des HF-Gehalts mit Al(NO3)3 (die „Elpasolith“-Reaktion); Titration von H2SO4 mit BaCl2 gefolgt von der Titration mit NaOH zur Bestimmung des Gesamtsäuregehalt. ; Der HF-, H2SO4- und Gesamtsäuregehalt wird zu einem HNO3-Äquivalent umgewandelt, mit dem HNO3-Gehalt, der durch Subtraktion von HF und H2SO4 aus dem Gesamtsäuregehalt ermittelt wurde..
- AN-H-134Bestimmung von Schwefel- und Phosphorsäure in Ätzbädern durch thermometrische Titration
Schwefel- und Phosphorsäure lassen sich in Säuregemischen bequem durch thermometrische Titration bestimmen. In der Titrationskurve erscheint für jede Säure ein Endpunkt, durch den sich die jeweilige Säure quantifizieren lässt.
- AN-H-135Bestimmung von Salz- und Phosphorsäure in Ätzbädern durch thermometrische Titration
Salz- und Phosphorsäure werden in Säuregemischen durch thermometrische Titration bestimmt. In der Titrationskurve erscheinen zwei Endpunkte, die zur Bestimmung der beiden Säuren dienen.
- AN-H-136Bestimmung von Salz- und Salpetersäure in Ätzbädern durch thermometrische Titration
Salz- und Salpetersäure werden in Säurebädern durch thermometrische Titration bestimmt. In einer ersten Titration wird der gesamte Säuregehalt mit Natronlauge titriert; in einer zweiten Titration bestimmt man den Salzsäuregehalt durch Titrieren mit Silbernitratlösung.
- AN-H-137Bestimmung von Salz- und Fluorwasserstoffsäure in Säurebäder durch thermometrische Titration
Salz- und Fluorwasserstoffsäure (Flusssäure) werden in ethanol- und acetonitrilhaltigen Ätzbädern durch thermometrische Titration bestimmt. In der Titrationskurve erscheinen zwei Endpunkte, die jeweils zur Quantifizierung der entsprechenden Säure dienen.
- AN-H-138Bestimmung von Salpeter- und Fluorwasserstoffsäure in Ätzbädern durch thermometrische Titration
Fluorwasserstoff- und Salpetersäure werden in ethanol- und acetonitrilhaltigen Ätzbädern durch thermometrische Titration bestimmt. In der Titrationskurve erscheinen zwei Endpunkte, die jeweils zur Quantifizierung der entsprechenden Säure dienen.
- AN-H-139Bestimmung von Salpeter-, Fluorwasserstoff- und Hexafluorokieselsäure in simulierten Ätzbädern durch thermometrische Titration
Nach Addition von Natronlauge, kann Hexafluorokieselsäure durch Rücktitration des Hydroxidüberschusses mit Salzsäure bestimmt werden. Fluorwasserstoffsäure (Flusssäure) wird durch Fällung mit Aluminium in Gegenwart von Natrium- und Kaliumionen bestimmt. Salpetersäure wird durch Subtrahieren der Äquivalenkonzentrationen an Hexafluorokiesel- und Fluorwasserstoffsäure von der totalen Säurekonzentration bestimmt.
- AN-H-140Titration von Phosphorsäure-, Salpetersäure- und Essigsäuregemischen
Salpeter-, Phosphor- und Essigsäure werden in Ätzbädern durch thermometrische Titration bestimmt. In der Titrationskurve erscheinen drei Endpunkte, die zur Quantifizierung der jeweiligen Säuren dienen.
- AN-I-004Nitratgehalt eines Kupfergalvanisierbades
Bestimmung von Nitrat in einem Kupfergalvanisierbad nach Umwandlung des Nitrats in Ammonium. Direkte potentiometrische Messung mit der NH3-ISE.
- AN-I-005Fluoridgehalt eines Chromgalvanisierbades
Bestimmung von Fluorid in einem Chromgalvanisierbad durch direkte potentiometrische Titration mit der F-ISE.
- AN-I-009Cyanide in water
Cyanides are used in some industrial processes, but if not handled carefully, they could contaminate the wastewater. In an acidic or neutral environment, this contaminated wastewater can form highly toxic hydrogen cyanide gas. Furthermore, the cyanide salts could also poison the environment and enter the ground water system. Therefore, it is essential to monitor the content of cyanide in effluent water. Cyanides can be easily determined with a cyanide ion-selective electrode. This application note presents a method for cyanide analysis according to APHA Method 4500-CN and ASTM D2036.
- AN-N-003Fünf Anionen in Lötpaste
Bestimmung von Anionen in Lötpaste nach alkoholischer Extraktion mittels Anionenchromatographie und anschliessender direkter Leitfähigkeitsdetektion.
- AN-N-005Siliciumdioxidspuren (SiO2) in Wasser (z. B. Kesselwasser) nach Anreicherung
Bestimmung von Siliciumdioxid (als Silicat) in reinem Wasser mit Anreicherung mittels Anionenchromatographie und anschliessender direkter Leitfähigkeitsdetektion (ohne Nachsäulenderivatisierung).
- AN-N-054Borat und Silicat in hochreinem Wasser
Bestimmung von Borat und Silicat in hochreinem Wasser mittels Anionenchromatographie und anschliessender direkter Leitfähigkeitsdetektion.
- AN-NIR-089Qualitätskontrolle von Laminaten
In der Halbleiterindustrie werden duroplastische Harze in Kombination mit Stoff oder Papier als Zwischenschicht zwischen Substraten von Leiterplatten (PCB) verwendet. Diese polymerbasierten Platten (Laminate) werden je nach Dicke und ihren thermomechanischen und elektrischen Eigenschaften ausgewählt. Die Nahinfrarotspektroskopie (NIRS) ist eine schnelle, zerstörungsfreie und einfach anzuwendende Analysemethode, die die Messung mehrerer wichtiger Qualitätsparameter in weniger als einer Minute ermöglicht. Die folgende Application Note beschreibt die Bestimmung der Übergangszeit von PCB-Laminaten mittels NIRS, einem Parameter, der mit der Dicke, der Glasübergangstemperatur und der Zugfestigkeit des Materials korreliert.
- AN-NIR-090Quality Control of Mixed Acids
- AN-NIR-091Quality Control of Mixed Acids
- AN-O-028Citrat, Ascorbat und Acetat in einer fotografischen Entwicklerlösung
Bestimmung von Citrat, Ascorbat und Acetat in einer fotografischen Entwicklerlösung mittels Ionenausschluss-chromatographie und anschliessender Leitfähigkeitsdetektion mit Suppression.
- AN-P-083Bestimmung von Cyanid in mikrodestilliertem Abwasser mittels amperometrischer Detektion
Cyanid im Abwasser ist aus gesundheitlicher Sicht ein wichtiger zu messender Parameter. Dabei wird zwischen freien, schwach und stark komplexierten Cyaniden unterschieden. Eine Direktmessung im Abwasser ist aufgrund der Matrix selbst nicht möglich. Der Gesamtgehalt an Cyanid wird nach einer Versauerung der Probe bestimmt, bei der sämtliches Cyanid aus Komplexen gelöst wird. Anschliessend erfolgt die Destillation und Absorption des Cyanids in einer alkalischen Lösung. Für die Bestimmung selbst wird die amperometrische Detektion mit einer Gold-Arbeitselektrode eingesetzt. Diese Elektrode ist vorteilhafter als eine Silberelektrode, da sie weniger Probleme durch Verunreinigungen verursacht und eine bessere Langzeitstabilität bietet.
- AN-PAN-1012Chemisches Vernickeln für Halbleiter- und PCB-Industrie
In einem stromlosen Nickelbad müssen die verbrauchten Inhaltsstoffe regelmässig nachgefüllt werden, um eine gleichmässige Schicht der Nickel-Phosphor-Legierung zu garantieren. Das macht eine Online-Überwachung der aktiven Badbestandteile notwendig. Zu den zu kontrollierenden Parametern gehören der pH-Wert (4,5–5,0) sowie die Nickel- (NiSO4 < 10 g/L) und Hypophosphit-Konzentration (NaH2PO2: 1–12 %). Darüber hinaus können auch (mittels CVS) Sulfat, Alkalinität und organische Additive bestimmt werden.
- AN-PAN-1028Online-Überwachung von Tetramethylammoniumhydroxid (TMAH) im Entwickler
Die bei der Herstellung von Halbleitern verwendeten Chemikalien müssen eine außergewöhnliche Reinheit aufweisen, da sich bereits Spuren von Verunreinigungen negativ auf die elektrischen Eigenschaften auswirken. Zur Herstellung von Leiterplatten wird der auf das Substrat (Wafer) aufgetragene lichtempfindliche Fotolack mit Hilfe einer Fotoschablone an definierten Stellen mit Licht belichtet und anschließend in einer chemischen Reaktion entwickelt. Der Entwickler enthält 2,38 bis 2,62 % Tetramethylammoniumhydroxid (TMAH) und sorgt dafür, dass sich die belichteten Bereiche leicht vom Untergrund trennen lassen. Die Überwachung der TMAH-Konzentration in der Entwicklerlösung erfolgt mit einem speziell für die Titration konfigurierten Prozessanalysator von Metrohm Applikon. Darüber hinaus hilft der Analysator beim Mischen der TMAH-Lösungen.
- AN-PAN-1054Online-Überwachung von Wasserstoffperoxid während des CMP-Prozesses
Die Ebenheit und Glätte von Siliziumwafern sind für die Herstellung optimaler Halbleiterbauelemente von grundlegender Bedeutung. Die chemisch-mechanische Planarisierung (CMP) ist die am häufigsten verwendete Technologie zur Erzielung ultraflacher Oberflächen. Zu diesem Zweck wird eine Aufschlämmung verwendet, die aus entionisiertem Wasser, einer kolloidalen Silizium- oder Aluminiumoxid-Flüssigkeitsdispersion und Wasserstoffperoxid besteht und ständig überwacht werden muss. Eine Online-Überwachung des CMP-Prozesses ist notwendig, um chemische Abfälle zu vermeiden und den Wafer zu verbessern Produktionserträge. Metrohm Process Analytics kann mit dem Mehrzweck-Prozessanalysator 2060 nicht nur die H2O2-Konzentration, sondern auch pH-Wert, Leitfähigkeit und Temperatur messen.
- AN-PAN-1055Überwachung von Qualitätsparametern in Reinigungsbädern der Waferherstellung
Eine schnelle Inline-Überwachung der wichtigsten SC1/SC2-Badbestandteile ist mit reagenzfreier Nahinfrarotspektroskopie, z. B. dem 2060 The NIR-R-Analysator, möglich.
- AN-PAN-1058Online-Bestimmung von Lithium in Soleströmen mittels Ionenchromatographie
Lithium ist ein weiches Alkalimetall, das typischerweise aus Salzseelaugen gewonnen wird. Lithium wird für viele Anwendungen verwendet, insbesondere aber für die Herstellung von Lithium-Ionen-Batterien in Elektroautos, Mobiltelefonen und mehr. Diese Prozess Application Note zeigt eine Methode zur Überwachung von Lithium sowie anderen Kationen in Salzlaugen durch Online-Prozess-Ionenchromatographie (IC), eine analytische Multiparametertechnik, mit der ionische Analyten in einem breiten Konzentrationsbereich gemessen werden können.
- AN-PAN-1062Online-Überwachung von Schwefelsäure und Wasserstoffperoxid mittels Raman-Spektroskopie
Ätzen ist ein wichtiger Prozess in der Halbleiterfertigung, bei dem Schichten chemisch vom Wafersubstrat entfernt werden. Zur Bestimmung der Säureätzmittelkonzentrationen in gemischten Säurelösungen (z. B. SPM, DSP oder DSP+) sind strenge Qualitätskontrollmaßnahmen erforderlich, die für die Optimierung der Ätzrate, Selektivität und Gleichmäßigkeit während mehrerer Waferätzschritte von entscheidender Bedeutung sind. Diese Anwendung stellt eine Methode zur gleichzeitigen Messung von Schwefelsäure und Wasserstoffperoxid in Ätzbädern mittels Raman-Spektroskopie mit dem PTRam-Analysator von Metrohm Process Analytics vor.
- AN-PAN-1067Online-Analyse organischer Additive im Verkupferungsprozess
Die Überwachung organischer Zusätze in Kupferbeschichtungsbädern ist von entscheidender Bedeutung. Der 2060 CVS Process Analyzer optimiert die galvanische Kupferbeschichtung durch präzise Badkontrolle.
- AN-S-024Fluorid, Chlorid und Nitrat in einem sauren Nickel-/Zinkbad
Bestimmung von Fluorid, Chlorid und Nitrat in einer NiSO4, ZnSO4-Lösung in Schwefelsäure mittels Anionenchromatographie und anschliessender Leitfähigkeitsdetektion nach chemischer Suppression.
- AN-S-029Anionen in einem Ätzmittel
Bestimmung von Fluorid, Nitrat, Phosphat und Sulfat in einem Ätzmittel mittels Anionenchromatographie und anschliessender Leitfähigkeitsdetektion nach chemischer Suppression.
- AN-S-032ppt-Analyse (ng/L) in der Ionenchromatographie
Bestimmung von Chlorid, Nitrat und Sulfat in hochreinem Wasser nach Anreicherung der Probe, mittels Anionenchromatographie und anschliessender Leitfähigkeitsdetektion nach chemischer Suppression.
- AN-S-106Vier Anionen in Prozessabwasser mittels der Säule Metrosep-A-Supp-1-250/4.6
Bestimmung von Chlorid, Nitrat, Bromid und Sulfat in Prozessabwasser mittels Anionenchromatographie und anschliessender Leitfähigkeitsdetektion nach chemischer Suppression.
- AN-S-107Fünf Anionen in Abwasser mittels der Säule Metrosep-A-Supp-3-250/4.6
Bestimmung von Fluorid, Chlorid, Nitrat, Phosphat und Sulfat in Abwasser mittels Anionenchromatographie und anschliessender Leitfähigkeitsdetektion nach chemischer Suppression.
- AN-S-151Anionen in einer Reinigungslösung
Bestimmung von Bromacetat, Methansulfonat, Chlorid, Phosphat und Sulfat in einer sauren Reinigungslösung mittels Anionenchromatographie und anschliessender Leitfähigkeitsdetektion und chemischer Suppression.
- AN-S-182Bromid- und Sulfuroxoanionen in fotografischen Entwicklerlösungen
Bestimmung von Bromid, Sulfit, Sulfat und Thiosulfat in einer fotografischen Entwicklerlösung mittels Anionenchromatographie und anschliessender Leitfähigkeitsdetektion nach chemischer Suppression.
- AN-S-186Anionen in Abwasser, welches N-Methylpyrrolidon enthält, mittels Inline-Matrixeliminierung
Bestimmung von Fluorid, Acetat, Formiat, Chlorid, Nitrit, Nitrat, Phosphat und Sulfat in Abwasser, welches N-Methylpyrrolidon enthält, mittels Anionenchromatographie und anschliessender Leitfähigkeitsdetektion nach chemischer Suppression und Inline-Matrixeliminierung.
- AN-S-250Spurenanionen in Tetramethylammonium-Hydroxid (TMAOH)
Bestimmung von Formiat, Chlorid, Nitrat, Phosphat und Sulfat in 20% TMAOH mittels Anionenchromatographie und anschliessender Leitfähigkeitsdetektion nach sequenzieller Suppression und inline Matrixneutralisation.
- AN-S-317Bestimmung von Ionen auf Oberflächen von Leiterplatten
Sauberkeit ist in der Elektronikfertigung unerlässlich. Insbesondere ionische Verunreinigungen führen zu einer drastischen Verschlechterung der Qualität der Leiterplatten. Das vorliegende Application Note beschreibt die Bestimmung von Anionen auf Leiterplattenoberflächen. Die dafür verwendete Methode der intelligenten Partial-Loop-Injektionstechnik (MiPT) erlaubt die Bestimmung von Kationen und Anionen in derselben Probe. Die Bestimmung der Kationen ist in AN-C-149 beschrieben.
- AN-S-344Anionen in «Electronic grade»-Salpetersäure auf einer hochkapazitiven Säule
Salpetersäure in Elektronikqualität (electronic grade) darf nur geringste Verunreinigungen (im mg/L-Bereich) von Anionen enthalten. Die ionenchromatographische Bestimmung solcher Anionenspuren erfordert sowohl eine hochkapazitive Säule als auch einen Eluenten der Nitrat erst nach allen anderen interessierenden Ionen von der Säule eluieren lässt. Erreicht wird diese Trennung auf einer Säule des Typus Metrosep A Supp 16 - 250/4.0 mithilfe eines starken Carbonat/Hydrogencarbonateluenten.
- AN-S-352Bestimmung von Pyrophosphat und Standardanionen in 30%igem Wasserstoffperoxid (H2O2)
Pyrophosphat wird in wässrigen Wasserstoffperoxidlösungen als Stabilisator eingesetzt. "Analysenreine" Lösungen können Pyrophosphat im höheren mg/L-Bereich enthalten, aber "elektrochemisch reines" Wasserstoffperoxid sollte frei von diesem Stabilisator sein. Hier erfolgt die Bestimmung von Pyrophosphat in einer hochreinen H2O2-Lösung (30%) durch Inline-Anreicherung mit Matrixeliminierung (MiPCT-ME) und einem Dose-in Gradienten.
- AN-S-357Abwasser einer Abwasserreinigungsanlage: Anionenbestimmung mit einer Metrosep A Supp 4 - 250/2.0
Die microbore Metrosep A Supp 4 - 250/2.0 Säule eignet sich besonders für die Analyse von Anionen in kritischen Proben. In der aktuellen Anwendung wird eine Abwasserprobe analysiert. Die Probe benötigt einzig eine Filtration vor der Injektion auf die Metrosep A Supp 4 - 250/2.0. Die Anionen werden unter Anwendung der Leitfähigkeitsdetektion nach sequentieller Unterdrückung quantifiziert.
- AN-S-365Anionische Unreinheiten in konzentriertem Ammoniumhydroxid in Halbleiterqualität
Die Halbleiterindustrie benötigt hochreine Chemikalien. Ionische Unreinheiten können zu mangelhaften Produkten führen. Diese Applikation beschreibt die Bestimmung anionischer Unreinheiten in 28%iger Ammoniumhydroxid-Lösung in Halbleiterqualität. Zur Vermeidung von Matrixstörungen müssen die Inline-Neutralisation und Inline-Anreicherung mit Matrixeliminierung eingesetzt werden.
- AN-S-393Anionen in Wasserstoffperoxid und Ammoniumhydroxid
Die Halbleiterindustrie benötigt für die Herstellung von Elektronikbauteilen hochreine oder sogar ultrahochreine Chemikalien. Die Reinheit der Chemikalien ist entscheidend für die Qualität und die effiziente Produktion der Bauteile. Hier werden Wasserstoffperoxid und Ammoniumhydroxid mittels traditioneller Probenvorbereitungsmethoden wie Aufschluss und Verdampfung und anschliessender Rekonstitution mit Reinstwasser analysiert. Die dabei entstehenden Proben werden unter Anwendung der intelligenten Anreicherungstechnik (MiPCT) injiziert.
- AN-T-034Fluorwasserstoff- und Salpetersäure in Ätzbädern
Bestimmung von Fluorwasserstoff- und Salpetersäure in Ätzbädern durch potentiometrische Titration.a) Bestimmung des Gesamtsäuregehalts mittels der kombinierten Sb-Elektrode und NaOH als Titranten.b) Bestimmung der Fluorwasserstoffsäure mittels der F-ISE und La als Titranten.Die Konzentration der Salpetersäure wird dann durch Kalkulation bestimmt.
- AN-T-100Chlorid in sauren Kupferbädern
Saure Kupferbäder werden vorwiegend für die Kupferanreicherung an Halbleiterwafern verwendet. Kleine Mengen Chlorid erhöhen die Anreicherungsgeschwindigkeit und verringern die Polarisation der Anode. Höhere Konzentrationen sind jedoch unerwünscht, da sie die Qualität der Kupferanreicherung verschlechtern. Daher ist es sehr wichtig, die Chloridmenge zu überwachen, um einen effektiven und dennoch qualitativ hochwertigen Kupferabscheidungsprozess zu gewährleisten. In dieser Anwendungsnotiz wird eine vollautomatische Lösung basierend auf Titration vorgestellt. Im Vergleich zur Ionenchromatographie bietet die Titration den Vorteil, dass die Probe nicht verdünnt werden muss und die Hardware verhältnismässig kostengünstig ist. Darüber hinaus ermöglicht es die vollautomatisierte Lösung den Benutzern, Fehler bei der Handhabung zu minimieren, den Arbeitsaufwand zu reduzieren und für eine herausragende Reproduzierbarkeit zu sorgen.
- AN-T-223Analyse von Galvanikbädern
Galvanikprozesse kommen in den unterschiedlichsten Industriebereichen zum Einsatz, um die Oberflächengüte verschiedener Produkte vor Korrosion oder Abrasion zu schützen und ihre Nutzungsdauer massgeblich zu verlängern. Eine regelmässige Überprüfung der Badzusammensetzung ist unerlässlich, um einen einwandfreien Prozess zu gewährleisten. Typische Beispiele für Galvanikbäder sind alkalische Entfettungsbäder oder saure oder alkalische Bäder, die Metalle wie Kupfer, Nickel oder Chrom oder Komponenten wie Chlorid und Cyanid enthalten. Es ist entscheidend, dass das gewählte Analyseverfahren hohe Sicherheitsstandards erfüllt und zuverlässige Ergebnisse liefert. Das OMNIS Sample Robot-System pipettiert und analysiert aggressive Galvanikbadproben automatisch an verschiedenen Arbeitsplätzen und erhöht so die Sicherheit im Labor. Verglichen mit der manuellen Titration sind die Ergebnisse zuverlässiger und das gesamte Verfahren ist zeitsparender, da verschiedene Parameter parallel analysiert werden können.
- AN-T-226Bestimmung funktioneller Gruppen in Graphit und Graphenoxid
Die Boehm-Titration ist eine quantitative Analyse funktioneller Gruppen auf der Oberfläche von Kohlenstoffmaterialien basierend auf ihren Reaktionen mit basischen Lösungen von NaHCO3 (pKa = 6,4), Na2CO3 (pKa = 10,3) und NaOH (pKa = 15,7). Hierbei handelt es sich um eine kostengünstige Methode, die mit hoher Präzision absolute Werte der zugänglichen, hauptsächlich sauerstoffhaltigen funktionellen Gruppen auf der Oberfläche liefert. Ursprünglich wurde die Boehm-Titration für Kohlenstoffmaterialien wie Leitruß (CCB), Aktivkohle, porösen Kohlenstoff und Graphit entwickelt. Auch moderne kohlenstoffbasierte Materialien wie Graphen, Graphenoxid (GO) oder Kohlenstoffnanoröhren können auf diese Weise analysiert werden.
- AN-T-234Direkter Vergleich von OMNIS und Titrando für Mischsäuren und TMAH
Diese Application Note vergleicht den OMNIS Titrator und den 888 Titrando für Bestimmungen von Salpetersäure, Phosphorsäure und Essigsäure in einem Aluminiumätzbad sowie die Bestimmung von Tetramethylammoniumhydroxid (TMAH). Es wurden identische Analyseparameter verwendet, was zeigt, dass OMNIS vergleichbare oder sogar bessere Ergebnisse liefert als andere etablierte Titrationssysteme.
- AN-T-235Bestimmung des pH-Wertes in Ruß
Der pH-Wert in Ruß, einem wesentlichen Zusatzstoff in modernen Lithium-Ionen-Batterien, wird in dieser Application Note mithilfe des pH-Meters 913, ausgestattet mit einem Unitrode easyClean, gemäß ASTM D1512 sowie ISO 787-9 und GB genau und zuverlässig analysiert /T 1717-1986.
- AN-U-048Silikat und Hexafluorosilikat
Bestimmung von Silikat und Hexafluorosilikat (rechnerisch) mittels Anionenchromatographie mit Leitfähigkeitsdetektion nach chemischer Suppression (siehe AN S-277) und nachfolgender UV/VIS-Detektion mit Nachsäulenderivatisierung. Hexafluorosilikat wird durch Wasser in Fluorid und Silikat aufgespalten. Beide Anionenkonzentrationen können für die Berechnung der SiF62--Konzentration verwendet werden.
- AN-V-010Simultane Bestimmung von Zink, Cadmium, Blei, Kupfer, Eisen, Nickel und Kobalt in NaOH
Simultane Bestimmung von Zn, Cd, Pb, Cu, Fe, Ni und Co in 50% NaOH.
- AN-V-019Blei in einem Chemisch Ni-Bad
Blei wird häufig als Stabilisator bei chemischen Vernickelungsprozessen verwendet. Die regelmäßige und genaue Bestimmung der elektrochemisch aktiven Pb(II)-Konzentration ist unerlässlich, um den Beschichtungsprozess optimal und unter stabilen Bedingungen ablaufen zu lassen. Mittels Differenzialpuls-Anoden-Stripping-Voltammetrie kann der aktive Bleigehalt nach der Verdünnung ermittelt werden. Für diese Anwendung hat sich die voltammetrische Bestimmung als einfache, empfindliche, selektive und störungsfreie Methode etabliert.
- AN-V-028Zink, Cadmium, Blei, Nickel und Kobalt in Salzsäure
Bestimmung von Zn, Cd, Pb, Ni und Co in Salzsäure (37.8%).
- AN-V-029Zink, Cadmium, Blei, Nickel und Kobalt in Javellewasser
Bestimmung von Zn, Cd, Pb, Ni und Co in Javellewasser.
- AN-V-030Zink, Cadmium, Blei, Nickel und Kobalt in einer 40%igen Eisen(III)-chlorid-Lösung
Bestimmung von Zn, Cd, Pb, Ni und Co in einer 40%igen FeCl3-Lösung.
- AN-V-129Eisen (gesamt) in Phosphorsäure
Polarographische Bestimmung von Fe-Konzentrationen in Phosphorsäure. Die Methode ist für Eisen in Konzentrationen im ppm-Bereich geeignet. Fe(II) und Fe(III) zeigen Signale mit derselben Empfindlichkeit.
- AN-V-131Nickel und Kobalt in Schwefelsäure
Bestimmung der Ni- und Co-Konzentration durch adsorptive Stripping Voltammetrie mit der HMDE mit Dimethylglyoxim (DMG) als Komplexbildner.
- AN-V-132Eisen in Schwefelsäure
Bestimmung der Fe-Konzentration durch adsorptive Stripping Voltammetrie mit der HMDE mit 1-Nitroso-2-Naphthol (1N2N) als Komplexbildner.
- AN-V-133Suppressor «Copper Gleam 2001 Carrier» (Rohm und Haas) in einem sauren Kupfer-Bad
Bestimmung von Suppressor «Copper GleamTM 2001 Carrier» in sauren Kupferbädern durch Verdünnungstitration (DT) mittels zyklisch voltammetrischem Stripping (CVS).
- AN-V-134Brightener «Copper Gleam 2001 Zusatzstoff (Rohm und Haas) in einem sauren Kupfer-Bad
Bestimmung von Brightener «Copper GleamTM 2001 Additive» in sauren Kupferbädern durch die Modified Linear Approximation Technique (MLAT) mittels zyklisch voltammetrischem Stripping (CVS).
- AN-V-135Suppressor «Cupracid BL-CT» (Atotech) in einem sauren Kupfer-Bad
Bestimmung von Suppressor «Cupracid BL-CT» in sauren Kupferbädern durch Verdünnungstitration (DT) mittels zyklisch voltammetrischem Stripping (CVS).
- AN-V-136Brightener «Cupracid BL» (Atotech) in einem sauren Kupfer-Bad
Bestimmung von Brightener «Cupracid BL» in sauren Kupferbädern durch Linear Approximation Technique (LAT) mittels zyklisch voltammetrischem Stripping (CVS).
- AN-V-137Suppressor «Cupraspeed» (Atotech) in einem sauren Kupfer-Bad
Bestimmung von Supressor «Cupraspeed» in sauren Kupferbädern durch Verdünnungstitration (DT) mittels zyklisch voltammetrischem Stripping (CVS).
- AN-V-138Brightener «Cupraspeed» (Atotech) in einem sauren Kupfer-Bad
Bestimmung von Brightener «Cupraspeed» in sauren Kupferbädern durch Modified Linear Approximation Technique (MLAT) mittels zyklisch voltametrischem Stripping (CVS).
- AN-V-141Suppressor «MACuSpec PPR 100 Wetter» (MacDermid) in einem sauren Kupfer-Bad
Bestimmung von Suppressor «MACuSpecTM PPR 100 Wetter» in sauren Kupferbädern durch Verdünnungstitration (DT) mittels zyklisch voltammetrischem Stripping (CVS).
- AN-V-142Brightener «MACuSpec PPR 100» (MacDermid) in einem sauren Kupfer-Bad
Bestimmung von Brightener «MACuSpecTM PPR 100 Brightener» in sauren Kupferbädern durch Modified Linear Approximation Technique (MLAT) mittels zyklisch voltammetrischem Stripping (CVS).
- AN-V-143Suppressor «Multibond 100 Part A20» (MacDermid) in einem sauren Kupfer-Bad
Bestimmung von Suppressor «MultiBondTM 100 Part A20» in einem sauren Kupferbad durch Verdünnungstitration (DT) mittels zyklisch voltammetrischem Stripping (CVS).
- AN-V-144Suppressor «Ronastan TP» (Rohm und Haas) in einem Zinn/Blei-Bad
Bestimmung von Suppressor «Ronastan TP Additive» in einem Zinn-/Bleibad durch Verdünnungstitration (DT) mittels zyklisch voltammetrischem Stripping (CVS).
- AN-V-145Suppressor «Solderon ST-200 Primary» (Rohm und Haas) in einem Zinnbad
Bestimmung von Suppressor «Solderon ST-200» Primary in einem Zinnbad durch Verdünnungstitration (DT) mittels zyklisch voltammetrischem Stripping (CVS).
- AN-V-146Suppressor «InPulse H6» (Atotech) in einem sauren Kupfer-Bad
Bestimmung von Suppressor «InPulse H6» in sauren Kupferbädern durch Verdünnungstitration (DT) mittels zyklisch voltammetrischem Stripping (CVS).
- AN-V-147Brightener «InPulse H6» (Atotech) in einem sauren Kupfer-Bad
Bestimmung von Brightener «InPulse H6» in sauren Kupferbädern durch Modified Linear Approximation Technique (MLAT) mittels zyklisch pulsvoltammetrischem Stripping (CPVS).
- AN-V-148Nickel in einem Sulfamatnickel-Galvanisierbad
Bestimmung der Ni-Konzentration in einem Ni-Galvanisierbad durch Polarographie in einem Ammoniakpuffer mit pH 9.6.
- AN-V-151Antimon(III) und Antimon(total) in einem stromlosen Nickel-Bad
Bestimmung der Sb(III)- und Sb(gesamt)-Konzentration in einem stromlosen Nickelbad durch anodische Stripping Voltammetrie (ASV). In c(HCl) zeigt nur Sb(III) ein Signal. In w(HCl) = 10% wird der Sb(gesamt)-Gehalt bestimmt.
- AN-V-155Suppressor «Thrucup EVF-B» (Uyemura) in einem sauren Kupfer-Bad
Bestimmung von Suppressor «Thru-Cup EVF-B» in sauren Kupferbädern durch Verdünnungstitration (DT) mittels zyklisch voltammetrischem Stripping (CVS).
- AN-V-156Brightener «Thrucup EVF-1A» (Uyemura) in einem sauren Kupfer-Bad
Bestimmung von Brightener «Thru-Cup EVF-1A» in sauren Kupferbädern durch Modified Linear Approximation Technique (MLAT) mittels zyklisch voltammetrischem Stripping (CVS).
- AN-V-157Leveler «Thru-Cup EVF-R» (Uyemura) in einem sauren Kupfer-Bad
Bestimmung von Leveler «Thru-Cup EVF-R» in sauren Kupferbädern durch Response Curve Technique (RC) mittels zyklisch voltammetrischem Stripping (CVS).
- AN-V-160Palladium in einem Beschleuniger
Bestimmung der Pd-Konzentration in einem Beschleunigerbad durch Polarographie in einem Ammoniumchlorid-Elektrolyten.
- AN-V-182Suppressor «Top Lucina a-M» (Okuno Chemical Industries) in einem sauren Kupfer-Bad
Bestimmung von Suppressor «Top Lucina α-M» in sauren Kupferbädern durch Verdünnungstitration (DT) mittels zyklisch voltammetrischem Stripping (CVS).
- AN-V-183Brightener «Top Lucina a-2» (Okuno Chemical Industries) in sauren Cu-Bädern
Bestimmung von Brightener «Top Lucina α-2» in sauren Kupferbädernd urch Modified Linear Approximation Technique (MLAT) mittels zyklisch voltametrischem Stripping (CVS).
- AN-V-184Leveler «Top Lucina a-3» (Okuno Chemical Industries) in einem sauren Cu-Bad
Bestimmung von Leveler «Top Lucina α-3» in sauren Kupferbädern durch Response Curve Technique (RC) mittels zyklisch voltammetrischem Stripping (CVS).
- AN-V-185Cadmium und Blei in elektronischen Komponenten als Bestandteil elektrotechnischer Produkte
Die EU-Richtlinie zur Beschränkung der Verwendung bestimmter gefährlicher Stoffe in Elektro- und Elektronikgeräten (RoHS) fordert die Prüfung von vier reglementierten Schwermetallen (Pb, Hg, Cd, Cr(VI)) in elektrotechnischen Produkten. Nach einer der IEC-Norm 62321 entsprechenden Probenvorbereitung kann die Bestimmung von Blei und Cadmium in elektronischen Bauteilen durch anodische Stripping-Voltammetrie (ASV) mit einem Ammoniumoxalatpuffer von pH 2 durchgeführt werden.
- AN-V-186Chrom(VI) in elektronischen Komponenten als Bestandteil elektrotechnischer Produkte
Die EU-Richtlinie zur Beschränkung der Verwendung bestimmter gefährlicher Stoffe in Elektro- und Elektronikgeräten (RoHS) fordert die Prüfung von vier reglementierten Schwermetallen (Pb, Hg, Cd, Cr(VI)) in elektrotechnischen Produkten. Nach der IEC-Norm 62321 entsprechenden Probenvorbereitung kann die Bestimmung von Chrom(VI) in elektronischen Bauteilen durch eine Polarographie mit einem Ammoniumpuffer von pH 9.6 durchgeführt werden.
- AN-V-187Quecksilber in elektronischen Komponenten als Bestandteil elektrotechnischer Produkte
Die EU-Richtlinie zur Beschränkung der Verwendung bestimmter gefährlicher Stoffe in Elektro- und Elektronikgeräten (RoHS) fordert die Prüfung von vier reglementierten Schwermetallen (Pb, Hg, Cd, Cr(VI)) in elektrotechnischen Produkten. Nach einer der IEC-Norm 62321 entsprechenden Probenvorbereitung kann die Bestimmung von Quecksilber in elektronischen Bauteilen durch anodische Stripping-Voltammetrie (ASV) an einer rotierenden Gold-Scheibenelektrode (Au-RDE) durchgeführt werden.
- AN-V-188Cadmium und Blei in Polymerwerkstoffen als Bestandteil elektrotechnischer Produkte
Die EU-Richtlinie zur Beschränkung der Verwendung bestimmter gefährlicher Stoffe in Elektro- und Elektronikgeräten (RoHS) fordert die Prüfung von vier reglementierten Schwermetallen (Pb, Hg, Cd, Cr(VI)) in elektrotechnischen Produkten. Nach einer der IEC-Norm 62321 entsprechenden Probenvorbereitung kann die Bestimmung von Blei und Cadmium in Polymerwerkstoffen durch anodische Stripping-Voltammetrie (ASV) mit einem Ammoniumoxalatpuffer von pH 2 durchgeführt werden.
- AN-V-189Chrom(VI) in Polymerwerkstoffen als Bestandteil elektrotechnischer Produkte
Die EU-Richtlinie zur Beschränkung der Verwendung bestimmter gefährlicher Stoffe in Elektro- und Elektronikgeräten (RoHS) fordert die Prüfung von vier reglementierten Schwermetallen (Pb, Hg, Cd, Cr(VI)) in elektrotechnischen Produkten. Nach einer der IEC-Norm 62321 entsprechenden Probenvorbereitung kann die Bestimmung von Chrom(VI) in Polymerwerkstoffen durch eine Polarographie mit einem Ammoniumpuffer von pH 9.6 durchgeführt werden.
- AN-V-190Quecksilber in Polymerwerkstoffen als Bestandteil elektrotechnischer Produkte
Die EU-Richtlinie zur Beschränkung der Verwendung bestimmter gefährlicher Stoffe in Elektro- und Elektronikgeräten (RoHS) fordert die Prüfung von vier reglementierten Schwermetallen (Pb, Hg, Cd, Cr(VI)) in elektrotechnischen Produkten. Nach einer der IEC-Norm 62321 entsprechenden Probenvorbereitung kann die Bestimmung von Quecksilber in Polymerwerkstoffen durch anodische Stripping-Voltammetrie (ASV) an einer rotierenden Gold-Scheibenelektrode (Au-RDE) durchgeführt werden.
- AN-V-191Cadmium und Blei in metallischen Werkstoffen als Bestandteil elektrotechnischer Produkte
Die EU-Richtlinie zur Beschränkung der Verwendung bestimmter gefährlicher Stoffe in Elektro- und Elektronikgeräten (RoHS) fordert die Prüfung von vier reglementierten Schwermetallen (Pb, Hg, Cd, Cr(VI)) in elektrotechnischen Produkten. Nach einer der IEC-Norm 62321 entsprechenden Probenvorbereitung kann die Bestimmung von Blei und Cadmium in metallischen Werkstoffen durch anodische Stripping-Voltammetrie (ASV) mit einem Ammoniumoxalatpuffer von pH 2 durchgeführt werden.
- AN-V-192Chrom(VI) bei der Chromatierung von metallischen Werkstoffen als Bestandteil elektrotechnischer Produkte
Die EU-Richtlinie zur Beschränkung der Verwendung bestimmter gefährlicher Stoffe in Elektro- und Elektronikgeräten (RoHS) fordert die Prüfung von vier reglementierten Schwermetallen (Pb, Hg, Cd, Cr(VI)) in elektrotechnischen Produkten. Nach einer der IEC-Norm 62321 entsprechenden Probenvorbereitung kann die Bestimmung von Chrom(VI) bei der Chromatierung von metallischen Werkstoffen durch adsorptive Stripping-Voltammetrie (AdSV) mit Hilfe von DTPA (Diethylentriamin-Pentaacetat) durchgeführt werden.
- AN-V-193Quecksilber in metallischen Werkstoffen als Bestandteil elektrotechnischer Produkte
Die EU-Richtlinie zur Beschränkung der Verwendung bestimmter gefährlicher Stoffe in Elektro- und Elektronikgeräten (RoHS) fordert die Prüfung von vier reglementierten Schwermetallen (Pb, Hg, Cd, Cr(VI)) in elektrotechnischen Produkten. Nach einer der IEC-Norm 62321 entsprechenden Probenvorbereitung kann die Bestimmung von Quecksilber in metallischen Werkstoffen durch anodische Stripping-Voltammetrie (ASV) an einer rotierenden Gold-Scheibenelektrode (Au-RDE) durchgeführt werden.
- AN-V-195Iodat in Chemisch Nickel-Bädern
Die chemische Vernickelung ist ein wichtiges und etabliertes Verfahren in der Oberflächenveredelung. In der Vergangenheit wurde zur Stabilisierung des Galvanikbads häufig die Zugabe kleiner Bleimengen verwendet. Da es in den letzten Jahren zunehmend Einschränkungen hinsichtlich der Verwendung von Blei in Konsumgütern, insbesondere in der Elektronik, gab, wurden alternative Stabilisatoren entwickelt und eingeführt. Einer der als Bleiersatz verwendeten Stabilisatoren ist Iodat. Es kann als einzelner Zusatzstoff oder in Kombination mit Wismut oder Antimon verwendet werden. Dieses Verfahren ermöglicht die Bestimmung von Iodat direkt in der Probe des Beschichtungsbades mittels Polarographie. Die Methode ist einfach und schnell und trotzdem genau und robust.
- AN-V-196Antimon und Bismut in Chemisch Nickel-Bädern
Die chemische Vernickelung ist ein wichtiges und etabliertes Verfahren in der Oberflächenveredelung. In der Vergangenheit wurde zur Stabilisierung des Galvanikbades häufig die Zugabe kleiner Bleimengen verwendet. Da es in den letzten Jahren zunehmend Einschränkungen hinsichtlich der Verwendung von Blei in Konsumgütern, insbesondere in der Elektronik, gab, wurden alternative Stabilisatoren entwickelt und eingeführt. Zwei der als Bleiersatz verwendeten Stabilisatoren sind Antimon und Wismut. Sie können als einzelnes Additiv oder in Kombination miteinander oder mit Jod verwendet werden. Dieses Verfahren ermöglicht die Bestimmung von Antimon und Wismut direkt in der Galvanikbadprobe mittels anodischer Stripping-Voltammetrie (ASV). Die Methode ist einfach und schnell, jedoch empfindlich und robust
- AN-V-199Voltammetrische Bestimmung von Gold(I) in Goldbädern
Um eine hohe Qualität zu erzielen, muss der Au(I)-Gehalt in den Goldbädern kontrolliert werden. Die voltammetrische Analyse mit der Multi-Mode Electrode Pro ist eine effiziente Lösung.
- AN-V-236Antimon-Stabilisator in einem Chemisch Ni-Bad
Die Überwachung des Sb(III)-Stabilisatorgehalts während der chemischen Ni-Beschichtung ist für hochwertige Beschichtungen von entscheidender Bedeutung. Die anodische Stripping-Voltammetrie bietet eine schnelle, zuverlässige Sb(III)-Analyse.
- AN-V-237Blei-Stabilisator in einem Chemisch Ni-Bad
Durch die chemische Vernickelung wird kostengünstiger Verschleiß- und Korrosionsschutz gewährleistet. Mit der Bi-Tropfenelektrode ist die Überwachung des Bleistabilisatorgehalts in Ni-Beschichtungsbädern möglich.
- AN-V-238Bismut-Stabilisator in einem Chemisch Ni-Bad
Die stromlose Ni-Beschichtung bietet eine hervorragende Oberflächengüte und Korrosionsbeständigkeit. Durch anodische Stripping-Voltammetrie kann der Bi-Stabilisator in Ni-Beschichtungsbädern überwacht werden.
- AN-V-242brightRC – Advanced brightener analysis with a response curve
brightRC enables reliable CVS (or CPVS) brightener quantification without repeated standard additions, especially for additive systems with nonlinear signal behavior. By using external response curve (RC) calibration and flexible regression, it avoids systematic errors inherent to linear standard addition methods and significantly reduces analysis time. This makes brightRC ideal for high throughput routine control in stable copper plating baths.
- BWT-4902Raman-Analyse der Kristallinität von Silizium
Die Raman-Spektroskopie mit einer Laseranregung bei 532 nm wird verwendet, um den kristallinen und amorphen Anteil von Mischphasen-Siliziumschichten zu untersuchen.
- TA-020IC-MS und IC-ICP/MS-Analytik in der Umwelt
Dieser Artikel beschreibt die Kopplung der Ionenchromatographie mit der Massenspektrometrie (IC-MS) sowie der Plasma-Massenspektrometrie (IC-ICP/MS) zur Spurenanalyse potenziell schädlicher Verbindungen in der Umwelt.
- TA-021Bestimmung des Halogen- und Schwefelgehalts in komplexen organischen Matrices mittels Combustion-Ionenchromatographie (CIC)
Die automatisierte Kombination aus Pyrolyse und nachfolgender Ionenchromatographie (Combustion IC) erlaubt den parallelen Nachweis von Halogenen und Schwefel in sämtlichen brennbaren festen und flüssigen Matrices. Die Methode besticht durch eine hervorragende Präzision und Richtigkeit sowie einen hohen Probendurchsatz.
- WP-046Überwindung der Einschränkungen durch Wasseraufnahme bei der NIR-Spektroelektrochemie
Die Möglichkeiten der NIR-Spektroskopie sind aufgrund der Wasseraufnahme in diesem Spektralbereich seit jeher begrenzt. Infolgedessen ist die Entwicklung neuer Anwendungen für die NIR-Spektroelektrochemie angesichts der bekannten Wassereinschränkung nur bedingt möglich. In diesem Artikel werden mehrere interessante Alternativen zur Minimierung oder sogar zur Beseitigung des wässrigen Beitrags in diesem Spektralbereich vorgeschlagen.
- WP-051Automatisierte Entwicklung und Optimierung von CVS-Methoden für Mehrkomponenten-Abscheidungsbäder
In den letzten drei Jahrzehnten war Cyclic Voltammetric Stripping (CVS) in der Leiterplatten- und Wafer-Beschichtungsindustrie die Standardmethode für die Analyse organischer Additive in galvanischen Kupferbädern. Durch die Abweichungen bei den Zusammensetzungen dieser Bäder werden jedoch optimierte Verfahren zur Methodenentwicklung benötigt. Dank jüngster Fortschritte bei den Hardware- und Softwareprotokollen für CVS hat sich der gesamte Prozess der Methodenoptimierung erheblich verbessert. In dieser Studie wird der Prozess der Methodenoptimierung im Zusammenhang mit diesen Protokollen erörtert.
- WP-067Qualitätskontrolle von Halbleiter-Säurebädern gemäss ASTM E1655 – zeitsparend und kosteneffizient mit NIRS
Der Bedarf an Mikroelektronik und gedruckten Schaltungen hat kontinuierlich zugenommen, da für die Herstellung moderner Endgeräte immer mehr Flachbildschirme, LEDs und Fotovoltaik sowie weitere wichtige Zwischenprodukte erforderlich sind. Dies ist für die Halbleiterindustrie durchaus von Vorteil, obwohl die rechtzeitige Lieferung bei gleichzeitiger Einhaltung hoher Qualitätsstandards Herausforderungen mit sich bringt. Für den Erfolg müssen mehrere Prozesse optimiert werden, damit die Produktionseffizienz gesteigert werden kann. In diesem Whitepaper werden die Möglichkeiten einer modernen Analysemethode, der Nahinfrarotspektroskopie (NIR), zur Beurteilung der Qualität von Säurebädern beschrieben, die zur Ätzung von Mikro- und gedruckter Elektronik dienen. Die Analysezeiten werden nicht nur stark auf weniger als eine Minute reduziert, sondern auch die damit verbundenen Betriebskosten fallen deutlich geringer aus, was natürlich eine nicht zu vernachlässigende Effizienzsteigerung bedeutet!
- WP-083Gekoppelte elektrochemische Raman-Spektroskopie: Eine weitere Dimension für Ihre Forschung
White Paper über Raman-Spektroskopie und Elektrochemie und deren Kombination (elektrochemisches Raman).
- WP-086Messung organischer Säuren und anorganischer Anionen mit Ionenchromatographie-Massenspektrometrie
Dieses White Paper konzentriert sich auf ausgewählte IC-MS-Anwendungen zur einfachen Identifizierung und Quantifizierung von organischen Säuren und anorganischen Anionen in unterschiedlichen Matrizes.
- WP-094OMNIS NIRS: Mehr Effizienz für Ihr Labor
In diesem White Paper werden das Konzept und die Vorteile der NIR-Spektroskopie erörtert und mehrere praktische Laboranwendungen mit dem OMNIS NIRS, dem hochmodernen NIR-Spektrometer von Metrohm, beschrieben.
- WP-097Warum zu OMNIS Client/Server (C/S) wechseln?
OMNIS Client/Server steigert die Unternehmensleistung durch skalierbares Servermanagement und senkt die Kosten durch die Reduzierung von Hardware, Energieverbrauch und Wartung an verschiedenen Standorten.