功能概述

基于 NIR XDS 技术，NIRS XDS Process Analyzer 过程分析仪 – DirectLight/NonContact 在新一代无接触过程分析仪中首屈一指，适用于在传送带、轨道、幅带上进行实时分析。无破坏性，可针对几乎任何移动的固体产品进行精确测量。

技术规格

技术数据
波长范围：800－2200 nm
检测器：InGaAs（铟镓砷化物）扩展
数据增量：0.5 nm
每项结果平均时间：3－30 秒

常规
光源寿命：= 8000 h
电源供电：100－240 VAC，50－60 Hz，1 A，
功率消耗：典型情况下 100 W，最大 300 W
软件包：Vision，用于仪器操作和方法开发
标准操作温度：0－35 °C（32－95 °F）
湿度：10－90% 相对
重量：42.2 kg（93 lbs）
尺寸（宽 x 高 x 厚）：407 x 610 x 362 mm（16 x 24 x 14.25 英寸）
外壳：主机 IP65/Nema 4X，优质钢
也有适用于防爆区域或不同于上述环境条件的各种外壳款型可供使用。

光纤和探头

• 单光纤电缆，分析仪和探头上配有 SMA 连接器（需要使用探头或流通池）
• 优质钢或哈氏合金探头（其他材料也可以）
  微型透射探头对
  单端透射探头
  排气吹洗及 45 度角探头
  透射流通池

流程通信选项

• OPC
• 数字协议
  MODBUS、PROFIBUS 等
• VISION 输入/输出模块
  可用 8、16 或 24 条模拟通道，24 条数字通道