このApplication Noteは、ステンレスおよびステンレスに関連する他の
合金の高温での孔食発生への耐性をテストするのに開発されたASTM standard G150 がベースとなっています。これは、孔食進行の起こる最低温度として定義される電位に依存しない臨界孔食温度 (CPT) を測定することで達成することができます。CPT の研究は、セル温度が上昇し電流が記録されている間の検体への電位印加によって構成されています。
このApplication Noteは、ステンレスおよびステンレスに関連する他の
合金の高温での孔食発生への耐性をテストするのに開発されたASTM standard G150 がベースとなっています。これは、孔食進行の起こる最低温度として定義される電位に依存しない臨界孔食温度 (CPT) を測定することで達成することができます。CPT の研究は、セル温度が上昇し電流が記録されている間の検体への電位印加によって構成されています。