スケールの形成は、オペレーションに莫大な損失を与えるシステムダメージを引き起こし得る冷却システムの重大な問題です。スケール形成において重要な成分の1つがシリカです。非晶質シリカと金属ケイ酸塩は、特にスケールを形成しやすい傾向があります。それゆえ、冷却剤中のシリカの濃度を知ることは重要です。UV/VIS検出およびPCRを伴うイオンクロマトグラフィーにより、遊離ケイ酸塩量および総ケイ酸塩量の両方を測定することができます。超純水でのサンプルの希釈、ならびに直接注入により、遊離ケイ酸塩の濃度が導き出されます。総ケイ酸塩量は、アルカリ性溶離液でのサンプル希釈による非結晶シリカの加水分解、ならびに分析前の反応時間 (例えば4時間など) 後の注入の後に測定されます。
