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Probennadel aus Zirkoniumoxid mit PEEK-Spitze

Probennadel aus Zirkoniumoxid mit PEEK-Spitze

6.2846.010

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  • Technische Daten

Probennadel für Sample Processoren und Autosampler in der Ionenchromatographie. Die PEEK-Spitze garantiert ein sicheres Durchstechen der Vial-Abdeckung.

Zubehör und mehr - Probennadel aus Zirkoniumoxid mit PEEK-Spitzedownload Enthaltene und optionale Teile (PDF)