La formazione di incrostazioni è un problema serio per i sistemi di raffreddamento e può causare danni ai sistemi con ingenti perdite operative. Un componente importante della formazione di incrostazioni è il silicio. In particolare, il silicio amorfo e i silicati metallici tendono a formare incrostazioni. Pertanto, è fondamentale conoscere la concentrazione di silicio negli agenti di raffreddamento. Mediante cromatografia ionica con rilevamento UV/VIS e PCR, è possibile stabilire il contenuto dei silicati sia liberi che totali. La diluizione del campione in acqua ultrapura e l'iniezione diretta permettono di conoscere la concentrazione dei silicati liberi. Il contenuto dei silicati totali è determinato dopo idrolisi del silicio amorfo mediante diluizione del campione nell'eluente alcalino e iniezione dopo un tempo di reazione (ad es. 4 ore) prima dell'analisi.
